IM7583日置阻抗分析仪IM3533日置测试仪技术参数
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阻抗分析仪IM7583
高速、高稳定性测量,提高生产量!测量时间:Z快0.5ms
●测量频率:1MHz~600MHz
●测量时间:Z快0.5ms(模拟测量时间)
●基本精度:±0.65%rdg.
●紧凑主机仅机架一半大小,测试头仅手掌大小
●丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定)
●使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
IM7583日置阻抗分析仪IM3533日置测试仪技术参数
基本参数(精度保证时间1年,调整后精度保证时间1年)测量模式LCR(LCR测量),分析(扫频测量),连续测量测量参数Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q精度保证范围100mΩ~5kΩ显示范围Z:0.00m~9.99999GΩ/Rs,Rp,X:±(0.00m~9.99999GΩ)LCR测试仪
应用覆盖线圈&变压器生产到研发等诸多领域
●基本精度±0.05%,测量范围广(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)。
●在例如C-D和ESR这样的混合测量条件下,不间断测试,速度比以往产品快10倍。
●内置的低阻抗高精度模式可有效测量低感应或铝电解电容的等效串联电阻。
●(测量速度是以往产品3522-50的10倍,大大提高了反复性和稳定性)
●专用模式,用于测量变压器线圈比率,互感系数和温度补偿DCR。
●频率扫描测试(仅IM3533-01)
●除标准0m/1m以外的2m/4m电缆设置。
●内置比较器和BIN功能。
●2ms的快速测试时间
IM7583日置阻抗分析仪IM3533日置测试仪技术参数
基本参数IM3533IM3533-01测量模式LCR,变压器测试(N,M,△L),连续测试(LCR模式)LCR,变压器测试(N,M,△L),分析仪(扫描测试),连续测试(LCR/分析模式)测量参数Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DCresistance),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q,N,M,ΔL,T测量量程100mΩ~100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义)可显示量程Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp:1mHz~200kHz(1mHz~10Hz步进)
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