仪器资讯
品牌：HIOKI
产地：JAPAN
供应商：深圳市银飞电子科技有限公司
日置阻抗分析仪IM7583产品介绍
日置阻抗分析仪IM7583咨询由深圳市银飞电子科技现货日置阻抗分析仪IM7583产品价格、参数规格、型号图片、品牌/商标、Zxin库存等,干体炉银飞电子聚集了全国的现货、产品和各种型号。这里为您供应日置阻抗分析仪IM7583。银飞作为ZG区的产品销售，备了大量的现货，供各位用户选购。以下为详细参数规格等信息。更多详细测试仪资料，可以在百度输入框内输入“1001718”后回车进入银飞查看。该产品由深圳市银飞电子科技有限公司供应，联系人洪先生；地址深圳市福田区华强北群星广场A座2217室。
高速、高稳定性测量，提高生产量！测量时间：Z快0.5ms
●测量频率：1MHz~600MHz
●测量时间：Z快0.5ms（模拟测量时间）
●基本精度：±0.65%rdg.
●紧凑主机仅机架一半大小，测试头仅手掌大小
●丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
●使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪专用的测试治具。
基本参数（精度保证时间1年，调整后精度保证时间1年）测量模式LCR（LCR测量），分析（扫频测量），连续测量测量参数Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q精度保证范围100mΩ~5kΩ显示范围Z:0.00m~9.99999GΩ/Rs,Rp,X:±(0.00m~9.99999GΩ)能够以测量结果为基础推测5种等效电路模式的常数。而且，可以通过模拟功能，使用推测结果或者任意的常数来显示频率特性的理想值。此外，使用比较器功能，还能够确定测量结果是否在判定区域内。
阻抗分析仪IM7580系列：使用SMD治具IM9201进行LCR测量IM7580系列5种机型的测量频率覆盖了1MHz3GHz。
和用于6种尺寸SMD的测试治具IM9201组合使用，能够简单准确的测量样品。
分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。“区域判定功能”是设置上限值和下限值的范围，并以IN/NG来显示判定结果。
峰值判定功能分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
“峰值判定功能”是以上限值、下限值、左限制、右限值来设置范围，并以IN/NG来显示测量的峰值是否在判定区域内。
分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
“SPOT判定功能”是选择任意的扫描点和参数，Z多进行16点的判定。
使用比较器功能，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
适用于判定样品是否合格的功能。
使用接触检查功能，能够检查样品和测量端口的接触状态，并确认接触不良情况和连接状态。
测试头的连接方法测试头的连接线连接阻抗分析仪。
稍微弯曲扭力扳手的手柄后拧紧螺母（0.56N・m）。
请注意不要拧过头。
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