高速、高稳定性测量,提高生产量!测量时间:Z快0.5ms,测量值偏差0.07%
●测量频率:1MHz~1.3GHz
●测量时间:Z快0.5ms(模拟测量时间)
●测量值偏差:0.07%(测量频率1GHz时的代表值)
●基本精度:±0.65%rdg.
●紧凑主机仅机架一半大小,测试头仅手掌大小
●丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定)
●使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪专用的测试治具。
阻抗分析仪IM7585日本日置HIOKI操作使用
基本参数(精度保证时间1年,调整后精度保证时间1年)测量模式LCR(LCR测量),分析(扫频测量),连续测量测量参数Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q精度保证范围100mΩ~5kΩ显示范围Z:0.00m~9.99999GΩ/Rs,Rp,X:±(0.00m~9.99999GΩ)阻抗分析仪IM7585日本日置HIOKI操作使用
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