品牌:HIOKI
产地:JAPAN
供应商:深圳市银飞电子科技有限公司
日置HIOKIIM3570阻抗分析仪产品介绍
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1台仪器实现不同测量条件下的高速检查
●1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
●LCR模式下Z快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量
●基本精度±0.08%的高精度测量
●适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量
●分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
●可以用于无线充电评价系统TS2400
主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头。
阻抗分析仪IM3570测量方式:压电元件的共振特性的测量LCR测试仪和阻抗分析仪合二为一的IM3570通过扫频测量和峰值比较器功能对共振状态进行合格判定,并在LCR模式想能通过1kHz或120Hz的LCR测量进行检查。扫频测量和LCR测量一台仪器全部实现。
LCR测试仪IM3570版本升级版本升级应由熟悉IM3570的功能和操作且有资格的技术人员来操作。更多详细测试仪资料,可以在百度输入框内输入“1001718”后回车进入银飞查看。该产品由深圳市银飞电子科技有限公司供应,联系人洪先生;地址深圳市福田区华强北群星广场A座2217室。
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