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滨松光子学商贸(中国)有限公司
主营产品:量子效率测试系统,CMOS相机,光源,光探测器,激光器,X射线成像系统,
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滨松光子学商贸(中国)有限公司

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滨松光子学商贸(中国)有限公司

失效分析系统

 
当前位置: 首页 > 产品中心 > 失效分析系统
PHEMOS-1000 微光显微镜 C11222-16
  • 品牌:日本滨松
  • 型号:C11222-16
  • 产地:亚洲 日本
  • PHEMOS-1000是一款高分辨率的微光显微镜,通过检测半导体缺陷引起的微弱的光发射和热发射来准确定位半导体器件的失效位...

Thermal F1 热发射显微镜 C14229-01
  • 品牌:日本滨松
  • 型号:C14229-01
  • 产地:亚洲 日本
  • “Thermal F1”是热发射显微镜的zuixin一代产品。这款设备完全地由设计和研发PHEMOS的工程师团队负责,显微...

iPHEMOS-DD倒置发射显微镜 C10506-05-16
  • 品牌:日本滨松
  • 型号:C10506-05-16
  • 产地:亚洲 日本
  • 倒置发射显微镜是一款背面分析系统,用于侦测和识别半导体器件上的光发射和热发射。  
    样品可以轻松地安装到探针卡上面...

iPHEMOS-MP倒置发射显微镜 C10506-06-16
  • 品牌:日本滨松
  • 型号:C10506-06-16
  • 产地:亚洲 日本
  • iPHEMOS-MP倒置微光显微镜是一款半导体失效分析系统,通过检测半导体装置缺陷引起的微弱的光发射和热发射来准确定位半导...

失效分析系统

 
通过微弱的光发射和热发射来定位半导体器件上失效缺陷位置的显微镜成像系统。