iPHEMOS-DD倒置发射显微镜 C10506-05-16

企业性质生产商

入驻年限第9年

营业执照已审核

详细介绍

连接示例

产品特征

● 可安装用于光发射分析和热分析的两个超高灵敏度相机

● 可安装最多3个波长的激光器和一个EOP探头光源

● 配备适合不同样品的光学工作台

● 高灵敏度微距镜头和最多10个适合每个探测器灵敏度波长的镜头

产品选配

● 激光扫描系统
● 高灵敏度近红外相机进行光发射分析
● 高灵敏度中红外相机进行热分析
● 红外-光致阻值改变（IR-OBIRCH）分析
● 激光辐射动态分析
● EO侦测分析
● 纳米透镜进行高分辨率、高灵敏度分析
● 连接到CAD导航
● 连接到LSI测试仪

显示功能

叠加显示/对比度增强功能

iPHEMOS-DD将发光图像叠加到高分辨率模板图像上来快速定位缺陷点。对比度增强功能可使图像更清晰，细节更多。

显示功能

详细参数

线性电压	AC 200 V (50 Hz/60 Hz)
功耗	Approx. 1400 VA (Max. 3300 VA)
真空	Approx. 80 kPa or more
气压	0.5 MPa to 0.7 MPa
尺寸/重量	Main unit: 1980 mm (W)×1270 mm (D)×834 mm (H), Approx. 1700 kg Control rack: 880 mm (W)×700 mm (D)×1842 mm (H), Approx. 300 kg Optional desk: 1400 mm (W)×800 mm (D)×700 mm (H), Approx. 60 kg

* iPHEMOS-MP主体机台包括探针台和其他相连接的装置。