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滨松光子学商贸(中国)有限公司
主营产品:量子效率测试系统,CMOS相机,光源,光探测器,激光器,X射线成像系统,
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滨松光子学商贸(中国)有限公司

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滨松光子学商贸(中国)有限公司

膜厚测量系统

 
当前位置: 首页 > 产品中心 > 膜厚测量系统
微米膜厚测量仪 C11011-01
  • 品牌:日本滨松
  • 型号:C11011-01
  • 产地:亚洲 日本
  • C11011-01型光学微米膜厚测量仪利用激光相干度量学原理,测量速度达60Hz,适用于产品线上在线测量。此外,与mapp...

微米膜厚测量仪 C11011-01W
  • 品牌:日本滨松
  • 型号:C11011-01W
  • 产地:亚洲 日本
  • C11011-01W型光学微米膜厚测量仪利用激光相干度量学原理,测量速度达60Hz,适用于产品线上在线测量。此外,与Map...

多点纳米膜厚测量仪 C11295
  • 品牌:日本滨松
  • 型号:C11295
  • 产地:亚洲 日本
  • C11295型多点纳米膜厚测量系统使用光谱相干测量学,用以测量半导体制造过程中的薄膜厚度,以及安装在半导体制造设备上的AP...

光学NanoGauge C13027-12
光学NanoGauge C13027-12
价格:面议
  • 品牌:日本滨松
  • 型号:C13027-12
  • 产地:亚洲 日本
  • C13027型光学纳米膜厚测量系统是一款利用光谱干涉法测量薄膜厚度的非接触式测量系统。C13207不仅支持PLC连接,而且...

光学NanoGauge C12562-04
光学NanoGauge C12562-04
价格:面议
  • 品牌:日本滨松
  • 型号:C12562-04
  • 产地:亚洲 日本
  • C12562型光学纳米膜厚测量系统是一款小型紧凑、节省空间、安装方便的非接触式薄膜厚测量系统。在半导体工业中,硅通孔技术的...

光学NanoGauge C10178-02
光学NanoGauge C10178-02
价格:面议
  • 品牌:日本滨松
  • 型号:C10178-02
  • 产地:亚洲 日本
  • C10178型光学纳米膜厚测量系统是一款利用光谱干涉法测量薄膜厚度的非接触式测量系统。光谱干涉法可以快速、高精度以及高灵敏...

光学NanoGauge C10178-03J
光学NanoGauge C10178-03J
价格:面议
  • 品牌:日本滨松
  • 型号:C10178-03J
  • 产地:亚洲 日本
  • C10178型光学纳米膜厚测量系统是一款利用光谱干涉法测量薄膜厚度的非接触式测量系统。光谱干涉法可以快速、高精度以及高灵敏...

光学NanoGauge C10178-03E
光学NanoGauge C10178-03E
价格:面议
  • 品牌:日本滨松
  • 型号:C10178-03E
  • 产地:亚洲 日本
  • C10178型光学纳米膜厚测量系统是一款利用光谱干涉法测量薄膜厚度的非接触式测量系统。光谱干涉法可以快速、高精度以及高灵敏...

光学NanoGauge C10323-02
光学NanoGauge C10323-02
价格:面议
  • 品牌:日本滨松
  • 型号:C10323-02
  • 产地:亚洲 日本
  • C10323型光学纳米膜厚测量系统是一款微观厚度测量系统。 在宏观层面上无法测量具有不规则表面的物体,因为这些物体会产生高...

光学NanoGauge C10323-02E
光学NanoGauge C10323-02E
价格:面议
  • 品牌:日本滨松
  • 型号:C10323-02E
  • 产地:亚洲 日本
  • C10323型光学纳米膜厚测量系统是一款微观厚度测量系统。 在宏观层面上无法测量具有不规则表面的物体,因为这些物体会产生高...

微米膜厚测量仪 C11011-21
  • 品牌:日本滨松
  • 型号:C11011-21
  • 产地:亚洲 日本
  • C11011-21型光学微米膜厚测量仪利用激光干涉法原理,测量速度达60Hz,适用于产品在线测量。此外,选配的作图系统可以...

微米膜厚测量仪 C11011-21W
  • 品牌:日本滨松
  • 型号:C11011-21W
  • 产地:亚洲 日本
  • C11011-21W型光学微米膜厚测量仪利用激光干涉法原理,测量速度达60Hz,适用于产品线上在线测量。此外,与mappi...

膜厚测量系统

 
采用激光干涉测量和光谱干涉测量的非接触式高精度厚度测量系统。
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