膜厚测量仪产品列表
-
- 非接触式金属膜厚测量仪
- 品牌:昊量/auniontech
- 型号: 02
-
- 手持式膜厚测量仪-MProbe 20 HC(弯曲表面)
- 品牌:美国Semiconsoft
- 型号: MProbe 20 HC
-
- 在线薄膜厚度实时测量仪-MPROBE 70
- 品牌:美国Semiconsoft
- 型号: MPROBE 70
-
- 薄膜厚度均匀度测量系统-MPROBE 60(mapping测量)
- 品牌:美国Semiconsoft
- 型号: MPROBE 60
-
- 原位薄膜厚度测量仪-MPROBE 50 INSITU
- 品牌:美国Semiconsoft
- 型号: MPROBE 50 INSITU
-
- 微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP
- 品牌:昊量/auniontech
- 型号: MPROBE 40 MSP
-
- 半导体/薄膜无损检测仪
- 品牌:昊量/auniontech
- 型号: auniontech-20
-
- Mprobe 20 薄膜测量系统 (单点测量)
- 品牌:昊量/auniontech
- 型号: Mprobe 20
-
- 膜厚测量仪(测量厚度1nm~1.8mm)
- 品牌:昊量/auniontech
- 型号: MProbe