如果在透射电镜图像中看到晶格条纹,可对标定后的图像进行FFT,得到一对或多对点,(如果点足够多,也可能是看到环或者弧线段,但都可以看成是点的集合),量取点到ZX的距离(单位是nm^-1),求倒数,即为所对应晶面的晶面间距(单位是nm)。原理上,这样的测算结果跟直接在TEM图像上测量晶格条纹的间距得到的结果是一样的,但实际上通过FFT得到的是大量同类晶面的统计结果,精度远高于直接测量,有很多时候直接测量甚至是无法完成的。FFT测算出的晶面间距,其数值可于XRD卡片中的某个d值对应。
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