企业性质生产商
入驻年限第5年
TMS-PRO 显微透过率测量仪
TMS- PRO和TMS-D 能快速准确地测量各类手机及Pad面板的透过率,可用于同一面板多个小孔测
量,实时显示单、多点波长透过率数据及指定波段平均透过率数据、实时显示半透波长及透过率等。
仪器特点:
◆大角度采集全穿透式测量;
◆ 可对多 孔进行快速测量;
◆数字视频对焦,使微小区域实现精确测量;
◆实时显示测量样品关注波长位置的透射率数据及半透波长检测,自动调整显示坐标范围,可对批量样品进行快速检测及谱图对比分析;
◆可自定义测量方案,设置判定标准,自动判定"OK"和"NG",使检测更快速,结果更准确;
◆高性能探测器,单次测量小于1秒, 重复性高;
◆最小测量孔径可达φ0.3mm。
应用范围:
◆手机面板IR孔、 隐藏孔、雾化孔、闪光灯孔透过率测量;
◆弧形边IR孔、镀膜镜、胶合镜、平行平板透过率测量;
◆太阳膜、滤光片光学元件透光测量。
技术参数:
型号 | TMS-PRO | TMS-D-I | TMS-D-I |
测量系统 | 全光谱 | 全光谱 | 全光谱 |
检测器 | Hamamatsu薄型背照式CCD | Sony线形CCD阵列 | Hamamatsu薄型背照式CCD |
检出限 | 0.05% | 0.10% | 0.05% |
光度准确性 | 0.50% | 0.50% | 0.50% |
光度重复性 | 0.2%(420~950nm) | 0.5%(420~950nm) | 0.2%(420~950nm) |
波长检测范围 | 380-1100nm | 380-1000nm | 380-1100nm |
信噪比(全信号) | 450:1 | 250:1 | 450:1 |
波长重复率 | 0.1nm | ||
样品测试平台 | X、Y轴可调 | ||
光源 | 高功率卤素光源 | ||
光斑直径 | >0.2~1mm(可选) | ||
样品大小 | ≥0.3mm | ||
测量时间 | <0.2s | ||
对焦方式 | 数字相机视频对焦 | ||
物镜 | 10X | ||
软件 | QspecSuiteV1.0,可显示单、多点波长数据,可手动和自动保存数据,自动 统计所测产品批号总数、良品、不良品的数量及百分比并以报表的形式一 键导出,超差报警提示,可根据用户标准校准机差。 | ||
操作系统/接口 | Windows7~Windows10/USB2.0 |