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入驻年限第5年
Sphere-3000光学元件反射率测量仪
仪器能快速准确地测量各类球面/非球面光学器件的相对反射率。适用于凸透镜、凹透镜、镜片等的镀膜反射率测量,还可进行有干涉条纹的单层膜厚或折射率测量。
特点:
显微测定微小领域的反射率 物镜对焦于被测物微小区域(φ60μm)
CIE颜色测定 X Y色度图,x, y, L, a, b, 饱和度,主波长等
检测速度快 高性能探测器,能在几秒内实现重现性高的测定
消除背面反射光 无需进行背面防反射处理即可快速准确地测定表面反射率
技术参数
型号 | Sphere-3000(II型) | Sphere-3000(III型) | Sphere-3000(NIR) |
检测范围 | 380~1100nm | 380~1000nm | 900~1700nm |
波长分辨率 | 1nm | 1nm | 3nm |
相对检测误差 | 0.75% | 0.5% | 0.5% |
测定方法 | 与标准物比较测定 | ||
被测物再现性 |
±0.1%以下 (380nm~410nm) ±0.05%以下 (410nm~900nm) |
±0.1%以下 (380nm~400nm) ±0.05%以下 (400nm~900nm) |
±0.1%以下 (1000nm~1600nm) |
单次测量时间 | <1S | ||
精度 | 0.3nm | ||
被测物N.A. |
0.12(使用10×对物镜时) 0.24(使用20×对物镜时) | ||
被测物尺寸 |
直径>1mm 厚度>1mm(使用10×对物镜时) 厚度>0.5mm(使用20×对物镜时) 厚度>0.1mm(使用50×对物镜时) | ||
被测物 测定范围 | 约φ100μm(使用10×对物镜时) 约φ60μm(使用20×对物镜时) 约φ30μm(使用50×对物镜时) | ||
设备重量 | 约22kg(光源内置) | ||
设备尺寸 | 300(W)×550(D)×570(H)mm | ||
使用环境 |
水平且无振动的场所 温度:23±5℃;湿度:60%以下、无结露, | ||
操作系统 | Windows7~Windows10 | ||
软件 | 分光反射率、物体颜色、单层膜厚(有干涉条纹)和镀膜(有干涉条纹)折射率测定 |