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Planum-3000平面光学元件光谱分析仪

广州标旗光电科技发展股份有限公司

企业性质生产商

入驻年限第5年

营业执照已审核
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Planum-3000平面光学元件光谱分析仪.jpg

Planum-3000平面光学元件光谱分析仪


仪器用于快速测量各类平面光学元件的反射、透射光谱,可进行多角度反射率、相对反射率、透射率测量、偏振光测量、膜性测量、颜色测量等。

仪器特点       自定义多角度透反射测量

测量对象:

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技术参数


型号Planum-3000
探测器Hamamatsu背照式CD阵列
检测范围380-1100nm
波长分辨率1nm
信噪比(全信号)1000: 1
相对检测误差<0.2%(410-900nm )
操作方式自动
角度分辨率<0.0002°
重复定位精度<0.005°
旋转速度上限25%/s
透射测量角度0-80°(小样品0-50°)
反射测量角度5-80°
单次测量时间量<1s
S/P光测量支持
样品尺寸>φ3mm
操作系统/接口Windows7~Windows10/USB2.0
电源/功率220V-5OHZ/100w
其它可自定义打印报表格式,开放式光学材料数据库