企业性质生产商
入驻年限第5年
Planum-3000平面光学元件光谱分析仪
仪器用于快速测量各类平面光学元件的反射、透射光谱,可进行多角度反射率、相对反射率、透射率测量、偏振光测量、膜性测量、颜色测量等。
仪器特点 自定义多角度透反射测量
测量对象:
技术参数
型号 | Planum-3000 |
探测器 | Hamamatsu背照式CD阵列 |
检测范围 | 380-1100nm |
波长分辨率 | 1nm |
信噪比(全信号) | 1000: 1 |
相对检测误差 | <0.2%(410-900nm ) |
操作方式 | 自动 |
角度分辨率 | <0.0002° |
重复定位精度 | <0.005° |
旋转速度上限 | 25%/s |
透射测量角度 | 0-80°(小样品0-50°) |
反射测量角度 | 5-80° |
单次测量时间量 | <1s |
S/P光测量 | 支持 |
样品尺寸 | >φ3mm |
操作系统/接口 | Windows7~Windows10/USB2.0 |
电源/功率 | 220V-5OHZ/100w |
其它 | 可自定义打印报表格式,开放式光学材料数据库 |