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OFDR设备—光学器件分析系统 OCI-T

武汉东隆科技有限公司

企业性质授权代理商

入驻年限第5年

营业执照已审核
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产品特点

  • 空间分辨率:20μm

  • 测量长度:20m

  • 中心波长:1550nm

  • 插损、回损分析


主要应用
  • 无源器件插损、回损测量

  • 硅光芯片插损、回损测量

  • 平面波导器件测试

  • 光学链路分析、诊断


参数

型号

OCI-T

单位

测量长度1

20

m

空间分辨率2

20

μm

波长扫描范围

40

nm

中心波长

1550

nm

波长精度

1.0

pm

回损动态范围

65

dB

回损测量范围

-130~0

dB

回损灵敏度

-130

dB

回损测量精度

±0.5

dB

插损动态范围3

13

dB

插损测量精度

±0.5

dB

输入电压

AC 220/110V; DC 12V

-

主机功率

60

W

通讯接口

USB

-

光纤接口

FC/APC

-

尺寸

​W 345 * D 390 * H 165

mm

重量

7.5

kg

储藏温度

0~50

工作温度

10~40

工作湿度

10~90

%RH

备注:

1.OCI-T测量长度为20m ,后续支持升级至100m 。
2.空间分辨率为20μm,后续支持升级至10μm。
3.插损动态范围是指标准单模光纤其散射水平被本底噪声淹没之前的max.单向损耗。


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