OLI光纤微裂纹检测仪能有效检测FA耦合面测量

FA简称光纤阵列，是把光纤按照一定的间距排列固定起来形成的光器件，它是光进出光器件的通道。光纤阵列分为单芯光纤阵列（SFA）和多芯光纤阵列（MFA），光纤阵列有常规FA、45°光纤悬出FA、光纤转90°FA。

45°FA利用端面全反射使光路90°转角与VCSEL或者PD耦合，这种方法耦合效率高，但苦于45°端面研磨工艺有较大难度，工艺制造成本高，生产良率不高。光纤转90°FA通常与硅光芯片中的光栅进行耦合，不过直接对准耦合，会存在一定的角度失配，尽管国内厂商经过这几年的努力与克服，已有不少厂家能够批量制造提高良率，但FA耦合面检测一直是通信行业所关注的热点话题。

FA耦合一般都是在一些很小的尺寸里面，例如光器件、光模块、硅光芯片等等，这些器件级的检测对设备要求极高。而OLI光纤微裂纹检测仪是专门针对这种微小尺寸的检测利器，其空间分辨率高达10微米，能实现芯片内部结构可视化。

OLI测量FA耦合面

多芯FA耦合面测量，测试结果显示该耦合位置回损为-62dB，耦合情况良好

由此可见，OLI光纤微裂纹检测仪能精准定位器件内部断点、微损伤点、耦合面以及链路连接点，以亚毫米级别分辨率探测光学原件内部，且广泛用于光器件、光模块损伤检测以及产品批量出货合格判定。

如需了解更多产品详情，请随时联系