OCI-V测量FBG受压时的偏振相关损耗

光纤光栅（FBG）作为一种新型的无源器件，为光通信和光传感成功开辟了一条崭新道路，从光纤光栅技术被应用以来，该技术在光纤传感技术和高速光纤通信领域得到了飞速发展。随着光通信的发展，传输速率不断提高，偏振特性对传输质量的影响也更加明显，成为高速光纤通信系统发展的障碍，然而，在光传感领域，偏振效应具有响应速度快、效率高等优势，可以利用光纤的偏振敏感特性进行传感，以及利用器件的超快偏振响应特点进行全光信号处理等，这些使得偏振相关特性的研究十分有意义。

测试FBG受压时偏振相关损耗

测试加载装置示意图如图1所示，用光矢量分析仪（OCI-V）进行测试，测量模式为反射式测量，一次扫描就可以得出FBG反射式的偏振相关损耗（PDL），测试的FBG中心波长为1548.0-1548.3nm，压力加载装置为将FBG平放在两块钢板之间，在FBG并行位置放置一根相同直径的光纤来保证FBG受压力时保持平衡，在上面钢板上放置不同重量的砝码进行加载，分别为1kg、2kg、4kg、6kg和10kg。

图1. 测试加载装置示意图

图2. a-0kN、b-10kN、c-20kN、d-40kN、e-60kN、f-100kN各PDL测试图

图2为不同压力下的测试图，从中可以看出，FBG在没有压力时中心波长附近光波段的PDL趋近于零，施加压力后中心波长附近两端出现两个波峰（图中画圈的位置），随着压力逐渐增大，波峰峰值越来越大，在压力达到60KN时波峰出现Z大值，且随着压力增大两个波峰逐渐靠近，中间PDL趋近于零的平坦区域逐渐缩小，在压力达到100KN时波峰出现畸变，波峰高度有所降低，中间PDL平坦区域消失。

综上所述，经测试发现压力会对FBG中心波长附近的PDL造成较大影响，随着压力增大中心波长两端PDL波峰峰值逐渐变大，PDL较小区域逐渐缩小直至消失，压力过大时会使中心波长附近波段的PDL出现畸变。通过OCI-V能够快速测试出FBG的偏振相关损耗，利用其偏振相关特性可以判定FBG的性能优劣，为其能否准确进行通信传输和光学传感提供了判断标准。

光矢量分析系统OCI-V