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日立X射线荧光分析仪在电子仪器中是一款重要的设备，射线荧光分析技术可以分为两大类型：波长色散X射线荧光分析(WDXRF)和能量色散X射线荧光分析(EDXRF);而能量色散型又根据探测器的类型分为(Si-PIN)型和SDD型。在不同的应用条件下，这几种类型的技术各有其突出的特点。目前，X射线荧光分析不仅材料科学、生命科学、环境科学等普遍采用的一种快速、准确而又经济的多元素分析方法。也是X射线荧光光谱仪也是野外现场分析和过程控制分析等方面shou选仪器之一。同时，成为地质、冶金、建材、石油化工、半导体工业和医药卫生等领域的重要分析手段。
日立X射线荧光分析仪正好能满足冶金分析的特殊要求,一台多道X射线荧光光谱仪能在一分钟之内分析20~30个元素,而其分析精密度完全可以和湿法化学分析相媲美,分析范围又很宽,从几个ppm到1**%.这样可以节省大量人力,提高工作效率,它又很少使用酸和特种化学试剂,不会污染环境.
依据现代色谱光谱仪器的作业原理,日立X射线荧光分析仪能够分为两大类:经典光谱仪和新式光谱仪.经典光谱仪器是建立在空间色散原理上的仪器;新式光谱仪器是建立在调制原理上的仪器.经典光谱仪器都是狭缝光谱仪器.调制光谱仪对错空间分光的,它选用圆孔进光依据色散组件的分光原理,现在,它己被广泛使用于简直一切的光谱丈量,分析及研讨作业中,格外适应于对弱小信号,瞬变信号的检查.那么矿石实践中发现受仪器稳定性、石灰石质量波动、物料细度等综合因素的影响，荧光分析结果尤其是SiO2、CaO偏差相对较大。用三率值控制生料配料将会加剧生料质量的不稳定性，加之粉末压片法不能完全消除矿物效应和颗粒效应，频繁重做曲线又不太现实。
因此尝试在用监测样监控仪器稳定性的基础上，跟踪影响仪器的各种因素加以修正，使之可以持续指导生产。因此，公司以生料CaO、Fe2O3作为三组分配料控制指标（CaO±0.20Fe2O3±0.10），根据每天荧光检验与分析对比结果偏差实时修正仪器（SiO2偏差小于0.35不予修正，只调整CaO配料指标），确保分析结果准确。此外，当生料荧光样品粉磨机、研钵、装样盒更换时，都需要在使用前进行数据对比并修正，
