关于X射线荧光分析仪技术特点介绍

1.测量痕量成分时，X射线管连续X射线产生的散射射线会产生较大的背景，从而导致目标峰观察比较困难。为了减少或消除背景X射线和特征谱线等散射X射线对高灵敏度分析的影响，该荧光分析仪配备了4种自动切换滤光片，有效降低了背景和散射X-射线的干扰。射线。调整敏感辐射的输出进一步提高了信噪比，因此可以进行更高灵敏度的微量分析。

2. X射线管的连续X射线产生的散射射线将产生较大的背景。该软件可以自动过滤背景对分析结果的干扰，从而确保快速准确地分析任何塑料样品。

3.当某些元素的电子从高能级转变为低能级时，释放的能量相似，这将导致光谱的峰在此重叠时间，因此会产生重叠峰。 SCIENSCOPE自行开发的软件可自动去除重叠峰，以确保元素分析的正确性。

4.逃逸峰：由于使用了Si针型半导体探测器，因此当X射线荧光穿过探测器时，如果某个元素的含量高（能量相应地越高），其被Si吸收的可能性就越大。此时，在光谱中产生一个峰值，在该频谱中元素的能量值减去Si的能量值，并且该峰是逸出峰。

5.当电压不稳定时，可以自动跟踪和补偿扫描频谱的漂移。