MicOS应用于III-V族半导体材料光致发光及微结构检测

1能与多个激发波长匹配
2内置数码相机设计，可实时观察样品
3可提供物镜朝下或物镜侧向的两种配置选择，便于测量侧向发光器件或放置在正置低温恒温器中的样品 MicOS显微光谱测量系统