使用NexION 5000 ICP-MS直接测定高纯氧化钕中的稀土杂质 Application Note (706124_CHN _01)

消除分子离子干扰的蕞常用方法是将基质元素与分析物分 离。这种分离通常通过液-液萃取、 高效液相色谱（HPLC）作为 离线色谱分离或利用 ICP-MS的进样技术来完成， 但这些方法往往耗时耗力。