RLK650 pro便携式红外发射率测量仪免费测样月
2024-07-0465RLK650 pro
七月我们迎来了党的103岁生日,值此盛际,我们同步推出了便携式红外发射率测量仪新品RLK650 pro,并在七月为有需要测试的用户免费测样。
在这个特别的免费测样月,我们邀请您申请RLK650 pro的免费测样,并亲身体验其优异性能!这是一个难得的机会,不容错过!
活动时间:即日起至2024/7/31
这款仪器专为需要精确测量物体表面红外发射率的应用而设计,具有高精度和便捷性。
? 产品特点
- 测量原理:采用积分半球反射法进行测量;
- 测量波段:采用3-5um&8-14um双波段测量;
- 轻巧便携:小巧轻便的设计,能够适应多种测试环境;
- 易于操作:彩色触摸屏设计,全中文界面一目了然,使您可以快速进行测量;
- 数据存储:支持Micro SD卡存储,TXT文件格式,方便后续数据分析。
? 产品参数
RLK650 pro带您体验红外测量的未来!立即行动,申请您的免费测样,探索科技的魅力!
? 如何申请
现在就访问我们的官方网站www.leadingoe.com或拨打我们的服务热线029-81778987/81870090。
? 可测样品
雷达天线罩
陶瓷基板
金属&石墨
更多信息请联系西安立鼎光电
www.leadingoe.com
成立于2016年4月,是一家专业从事短波红外成像系统及光电测试装备的研发生产、系统集成、销售服务为一体的国家级高新技术企业。公司专注于为客户提供从器部组件到全套光电系统产品的完整解决方案。近年来,公司研制的短波红外成像系统在激光光斑检测、半导体检测、激光通信、光谱成像、激光切割、生物医疗、天文观测、安防等领域得到了广泛的应用。多年来,根据用户需求研制的多款光电测试装备为用户产品的性能指标保证发挥了重要作用。
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