立鼎光电邀您参加上海机器视觉展

中国（上海）机器视觉展暨机器视觉技术及工业应用研讨会将于2024年7月8日-10日在上海新国际博览中心隆重举办。此次展会西安立鼎光电将展出短波红外相机、光斑质量分析仪、辅助对焦系统、缺陷检测系统等产品，我们将在E2.2653展位期待您的莅临。

LD-SW640171550-UC-G高性能短波红外相机在0.9-1.7μm波段具有高性能、探测范围宽、操作简单等特点。该产品分辨率为640x512，全画幅最高帧率可达50Hz，可同时输出数字图像和模拟图像。采用GigE接口，配套专用显控软件，便于用户使用，并提供相应SDK，支持用户二次开发。机芯采用紧凑式结构，重量轻，方便与各类光电系统集成使用。具备任意位置开窗功能，可根据要求在窗口模式下对帧频进行提升。

BeamLeadingOEV1光斑质量分析系统可对激光光斑的光斑大小、光斑形状、质心位置以及能量分布等参数进行全面的测试和分析。该产品采用GigE接口，配套专用显控软件，便于用户使用，并提供tcp通信接口与第三方软件进行交互，支持用户兼容开发。

LD-VISCO-X1辅助对焦系统，将显微成像镜筒及靶标成像镜筒相结合，能够快速的、准确的确定焦面位置。靶标可按照需求进行特殊定制。镜筒光学接口采用螺纹接口，能够适配绝大多数显微物镜，可根据不同放大倍率进行更换。

立鼎缺陷检测系统可兼容立鼎系列相机对测样产品的缺陷进行大小、数量进行自动化检测。能够识别多种缺陷特征，可按照测试需求进行定制开发。

更多信息请联系西安立鼎光电

www.leadingoe.com

成立于2016年4月，是一家专业从事短波红外成像系统及光电测试装备的研发生产、系统集成、销售服务为一体的国家级高新技术企业。公司专注于为客户提供从器部组件到全套光电系统产品的完整解决方案。近年来，公司研制的短波红外成像系统在激光光斑检测、半导体检测、激光通信、光谱成像、激光切割、生物医疗、天文观测、安防等领域得到了广泛的应用。多年来，根据用户需求研制的多款光电测试装备为用户产品的性能指标保证发挥了重要作用。

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