OFDR光矢量分析系统 OCI-V-武汉东隆科技有限公司

详细信息

产品特点

自校准
测量长度：200m
波段：C+L、O波段（可选）
1秒内测量多种光学参数

主要应用

平面波导器件
硅光器件
光纤器件
波长可调器件、放大器、滤波器

测量参数：

偏振相关损耗PDL
偏振模色散PMD
插损IL
群延时GD
色散CD
琼斯矩阵参数
光学相位

参数

主要参数
	标准模式		高动态范围模式
测量长度1	200			m
波段	C+L 波段：1525~1625；O 波段：1265~1340			nm
波长分辨率	1.6			pm
波长精度	±1.0			pm
损耗（IL）
动态范围	60		80	dB
插损精度	±0.1		±0.05	dB
分辨率	±0.05		±0.002	dB
回损精度	±0.1			dB
群延时（GD)
量程	6			ns
精度	±0.2		±0.1	ps
损耗范围	45		60	dB
色散（CD）
精度	±10		±5	ps/nm
偏振相关损耗（PDL)
动态范围	40		50	dB
精度	±0.05		±0.03	dB
偏振模色散（PMD）
量程	6			ns
精度	±0.1			ps
损耗范围	40		50	dB
硬件
主机功率	60			W
通讯接口	USB			-
光纤接口	FC/APC			-
尺寸	W 345 * D 390 * H 165			mm
重量	7.5			kg
储存温度	0 ~ 50			℃
储存与工作温度	10 ~ 40			%RH
定制功能2
测量长度	100			m
空间分辨率	10μm@50m	20μm@100m		μm
回损测量范围	-125 ~ 0			dB
插损动态范围	18			dB
插、回损分辨率	0.05			dB
插、回损精度	±0.1			dB

备注：

1.透射模式测量长度200m，可拓展反射模式，测量长度为100m；

2.光矢量分析仪(OCI-V)可拓展OFDR功能，测量光纤链路。

产品优势

OCI-V是一款快速检测光学器件损耗、色散和偏振等相关参数的光矢量分析系统。其原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描，并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵，进而获得器件插损、色散、偏振相关损耗、偏振模色散等光学参数。该系统采用独特光路设计以及先进算法，实现智能校准，操作简单，极大节省测试时间。