- 日本松泽/Matsuzawa
- 奥地利奎恩斯/Qness
- 北京创诚致佳/Hugetall
- 丹麦司特尔/Struers
- 德国博锐/Bareiss
- 德国海德堡/Hildebrand
- 德国KB/KB
- 德国丘泰克/Qtec
- 兹韦克/Zwick
- 艾法利/Affri
- 轶诺/Innovatest
- 美国力可/LECO
- 美国雷克斯/Rex
- 美国威尔逊/Wilson Hardness
- 美国杰瑞/GR
- 日本阿斯科/ASKER
- 日本FUTURE - TECH/FUTURE - TECH CORP
- 日本三丰/mitutoyo
- 日本得乐/TECLOCK
- 日本岛津/Shimadzu
- 瑞士恩斯特/ERNST
- 瑞士Proceq/Proceq
- 意大利Gibitre/Gibitre
- 英国富臻/Foundrax
- 英国Wallace/Wallace
- 美国标乐/BUEHLER
- 法国LAMPLAN/LAMPLAN
- 德国ATM/ATM
- 台湾泰釜泰科/TOPTECH
- 韦伯斯特/Webster
- 美国菲力尔/FLIR
- 海康威视/Hikvision
- 迪特尔特/Dietert
- 英国欧元/Euro
- 德国宾德/Binder
- 德国美墨尔特/MEMMERT
- 美国Atlas/Atlas
- 徕卡显微系统/Leica Microsystems
- 日本尼康/NIKON
- 德国蔡司/ZEISS
- 德国EPK/ElektroPhysik
- 日本奥林巴斯/OLYMPUS
- 台湾高铁检测/GOTECH TESTING MACHINES
- 美国TA仪器/TA Instruments
- 台湾晔中/EKTRON
- 台湾优肯/UCAN
- 德国Mikrotron/Mikrotron
- 德国马尔/Mahr
- 德国尼克斯/QNIX
- 德国菲希尔/Fischer
- 英国易高/ELCOMETER
- 美国英斯特朗/INSTRON
- 英国Lloyd/Lloyd
- 美国MTS/MTS
- 美国高泰检测/Qualitest
- 德国ERICHSEN/ERICHSEN
- 霍伊特/Hoyt
- 美国Alpha/Alpha
- 齐格勒/Ziegler
- Montech/蒙泰克
- 奥地利安东帕/Anton Paar
- 英国SMS/Surface Measurement System
- 瑞典海克斯康/HEXAGON
- 美国福禄克/FLUKE
- 安博/AMPROBE
- 徕卡测量系统/Leica Geosystems
- 美国磁通/magnaflux
- 英国Ray-Ran/Ray-Ran
- 达高特/DAKOTA
- 美国狄夫斯高/Defelsko
- 太阳科学/Sun scientific
- 日本雅马拓/YAMATO
- 香山/SENSUM
- 美国Q-LAB/Q-LAB
- 赛默飞世尔/Thermo Fisher
- 普和希/PHCbi
- 梅特勒/METTLER TOLEDO
- 日本基恩士/KEYENCE
- 诺甲/Norka
- 德国马卡托/MARKATOR
- 法国西刻/Sic Marking
- 德国莱驰/Retsch
- 铁川/Kawatetsu
- 美康/METKON
- 德国BYK/BYK
- 汀克瑞瑟/Tinker & Rasor
- 日本电子/JEOL
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