用上帝的视角进行 SEM 表征与数据分析——飞纳电镜 MAPS 系统带你开启科学新视界

2024 年，飞纳发布革命性的数据采集及阅读系统 Phenom MAPS。该系统不仅彻底革新了数据存储的方式，还为 SEM 表征与数据分析开启了“上帝视角”，帮您轻松掌握每一个细节，不再需要费力解释。

今天，我们来详细了解一下这款为科学家们提供“上帝视角”的 MAPS 系统。

导师再让我拼全图，我会大声回答：我“朕”的可以！

这里是一个地质样品的能谱拼图结果，Phenom MAPS 可以实现对整个样品的能谱采集，导出任意拼接的原始能谱数据，以方便进行离线分析。

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光镜、拉曼、红外、XPS，甚至 CAD 或手绘草图，通通可以关联。下图案例：通过 MAPS CISA，将 SEM 和 XPS 面分布以及全谱分析的功能相结合，分析多孔砂粒子的表面组成和形貌。

通过结合 XPS 和 SEM 的分析，可以精确地将化学信息与显微镜提供的高分辨率结构信息融合。CISA 关联工作流程尤其适用于研究电池、高分子材料、催化剂和金属等样品的材料研究。

MAPS 系统不仅是一个自动化的图像、能谱采集工具，更是一个革命性的数码存档和关联数据分析平台。通过地图化的多层级扫描电镜和能谱数据采集及关联系统，为您提供多模态的“上帝视角”，全面掌握显微镜数据，不再错过任何细节。

将在第十届电子显微学网络会议，重磅发布最新产品以及应用案例！

复纳科学仪器（上海）有限公司应用专家张传杰将带来主题【新品发布：飞纳台式扫描电镜的技术突破及全新智能型离子研磨制样平台介绍】报告时间：6 月 26 日 10:30-11:00，欢迎大家报名预约观看。

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