半导体研发测试产品列表
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- CDE resmap 168 全自动四探针面扫描电阻率电导率测试仪
- 品牌：瑞斯迈
- 型号： CDE resmap 168
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- CDE resmap 273 四探针面扫描电阻率电导率测试仪
- 品牌：瑞斯迈
- 型号： CDE resmap 273
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- QEX12M太阳能组件量子效率测试系统 PVM
- 品牌：美国PV measurements
- 型号： QEX12M
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- 反射式膜厚测量仪
- 品牌：日本HalfMoon
- 型号：
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- 椭圆偏光膜厚测试仪（自动）
- 品牌：日本HalfMoon
- 型号： //
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- 椭圆偏光膜厚测量仪（手动）
- 品牌：日本HalfMoon
- 型号： 1
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- 膜厚测量仪
- 品牌：日本HalfMoon
- 型号： -
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- 嵌入式膜厚测试仪
- 品牌：日本HalfMoon
- 型号： 01
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- 膜厚光谱分析仪系统
- 品牌：日本HalfMoon
- 型号： *
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