美国SOC总裁及首席科学家Jafolla到访安洲科技

2014年6月3日-4日，美国SOC公司总裁及首席科学家Jafolla博士与销售经理Mike先生访问北京安洲科技有限公司。Jafolla博士此次访问主要就SOC系列高光谱成像光谱仪和反射率测量设备的相关市场与技术问题与国内的用户以及安洲科技的技术人员进行交流和沟通。

6月3日Jafolla博士应中科院遥感地球所、国家遥感ZX农业应用部的邀请，就SOC710高光谱成像光谱仪的应用、操作进行了技术交流，并作了主题为“AdvancesandApplicationsin HyperspectralImagingSystems”的讲座。

Jafolla博士在中科院遥感地球所

Jafolla博士在国家遥感ZX农业应用部

北京安洲科技有限公司作为SOC公司在ZG区的代理和技术服务ZX，主要负责安排了Jafolla博士此次访问的行程，并安排技术人员全程参与了技术交流与学习等活动。Jafolla博士高度肯定了安洲科技对SOC产品的市场推广与技术服务工作，表示将带领SOC与安洲科技保持长久的合作，并承诺SOC将会开放更多产品给ZG，在产品应用、产品技术服务等方面给予安洲科技更大的支持。

注：美国SOC公司专注于目标表面光学特性研究和表面光学仪器开发，其产品主要包括成像光谱仪和反射率测量仪两大类，其成像光谱仪具有独特的内置扫描设计，大大减轻了整机重量，提高了可操作性，受到国内外用户的广泛好评。