美国SOC公司首席科学家到访北京安洲并举办学术研讨会

美国SOC公司首席科学家Jafolla博士及国际销售经理Zemlan先生应邀将于本月底到访我司，并将在随后的几天内与我司协同举办学术研讨会，期间Jafolla博士和Zemlan先生将与相关客户进行技术交流，主要内容为高光谱成像技术的Zxin发展与应用以及光学材料的反射率测量领域相关应用。

Jafolla博士致力于高光谱/空间算法开发利用区域，并将这些技术应用于YL、农业和工业等高光谱测量领域。他还设计并开发了用于红外反射特性、光学常数及反射率和透射率测量的高端设备。

美国SOC公司的产品主要包括成像光谱仪和反射率测量仪两大类；其成像光谱仪具有独特的内置扫描设计，大大减轻了整机重量，提高了可操作性。其产品在进入ZG市场的很短时间内便获得了广泛认同。

本次交流研讨会主要安排如下：

1、 2014.6.3 下午2:00，协办单位：中科院遥感地球所（大屯路，原遥感所）；

2、 2014.6.4 上午9:00，协办单位：ZG农业科学院区划所；

3、 2014.6.4 下午2:00，协办单位：国家农业工程信息化工程研究ZX；

4、 2014.6.4 下午4:30，协办单位：清华大学；

5、 2014.6.5 上午9:00，协办单位：ZG计量科学院。

现场我们将用SOC710成像光谱仪和SOC410/ET100反射率发射率测量仪进行演示。欢迎感兴趣的研究人员及专家学者前来参加，具体事宜请与我们联系确认。

北京安洲科技有限公司

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