| 资料简介： | |
| X射线无损检测背照式光电二极管阵列，细长板类型S11299-021是一款背照式16元件光电二极管阵列，专为X射线无损检测设计。与S5668系列相比，它具有更高的灵敏度、均匀性和光电二极管元件稳定性。背照式光电二极管阵列具有便捷操作的特点，而且易于耦合到闪烁体，因为其背面没有接合线和光敏区域，不用担心损坏电路。S11299系列兼容双能量成像，因为它可与S11212系列[尺寸：25.4（宽）×20.0（高）mm]结合使用，配置上下两层结构，同时检测高和低X射线。产品特征● 光谱响应范围：340至1100nm● 元件尺寸：1.175（宽）×2.0（高）mm /单个元件● 元件间距：1.575毫米（×16像素）● 安装在板上尺寸：25.4（宽）×10.2（高）mm● 多种组合形式，宽窄均能适用支持双能量成像（用于上下两层结构） | |
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