文档简介 X射线无损检测背照式光电二极管阵列,细长板类型S11299-021是一款背照式16元件光电二极管阵列,专为X射线无损检测设计。与S5668系列相比,它具有更高的灵敏度、均匀性和光电二极管元件稳定性。背照式光电二极管阵列具有便捷操作的特点,而且易于耦合到闪烁体,因为其背面没有接合线和光敏区域,不用担心损坏电路。S11299系列兼容双能量成像,因为它可与S11212系列[尺寸:25.4(宽)×20.0(高)mm]结合使用,配置上下两层结构,同时检测高和低X射线。产品特征● 光谱响应范围:340至1100nm● 元件尺寸:1.175(宽)×2.0(高)mm /单个元件● 元件间距:1.575毫米(×16像素)● 安装在板上尺寸:25.4(宽)×10.2(高)mm● 多种组合形式,宽窄均能适用支持双能量成像(用于上下两层结构)
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