光学膜厚仪的应用和原理

光学膜厚仪是一种非接触式测量仪器，一般会运用在生产厂商大量生产产品的过程，由于误差经常会导致产品全部报废，这时候就需要运用光学膜厚仪来介入到生产环境，避免这种情况的发生。

典型应用领域

半导体制造业，光刻胶、氧化物、硅或其他半导体膜层的厚度测量。

生物医学原件：聚合物/聚对二甲苯；生物膜/球囊壁厚度；植入药物涂层。

微电子：光刻胶；硅膜；氮化铝/氧化锌薄膜滤镜                       

液晶显示器：盒厚；聚酰亚胺；导电透明膜

由于是光学测量，在测量时候无须担心破坏样品，让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数，通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析，几秒钟内就可测量结果。

优尼康科技有限公司提供的光学膜厚仪，是一款桌面型的产品，操作简单，适用领域广阔，远程的在线技术支持，让膜厚测量更轻松。

系统特点：

嵌入式在线诊断方式；

免费离线分析软件；

精细的历史数据功能，帮助用户有效地存储，重现与绘制测试结果

优尼康主要为半导体、新能源企业和高校及研发ZX提供各类精密进口制程及测量设备。提供全面的一对一销售服务，技术支持，备件管理和咨询服务。