什么是X射线荧光镀层测厚仪?
2020-03-312629X射线荧光(XRF)镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款高端仪器,优尼康科技有限公司提供的一款Bowman BA-100 Optics为例,来简单了解下,什么是台式X射线荧光镀层测厚仪。
Bowman BA-100 Optics 机型采用业界先进的多孔毛细管光学聚焦装置,有效缩小测量点斑点的同时,可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。
Bowman BA-100 Optics 机型配备大面积的SDD(硅漂移探测器),有效拓展元素分析范围,适应Z严格的微区、超薄镀层,以及痕量元素分析需求。
的测试性能、突出的微区测量能力,Bowman BA-100 Optics机型是研究开发、质量管控的**XRF镀层厚度及元素成分分析仪器。
稳定的X射线管
● 微聚焦50瓦Mo靶射线管(其它靶材可选); 小于100um的测量斑点
● 射线出射点预置于射线管Be窗正ZY
● 长寿命的射线管灯丝
● 独有的预热和ISO温度适应程序
多毛细管聚焦光学结构
● 显著提高X射线信号强度
● 获得较准直器机型数倍乃至数十倍的信号强度
● 小于100um直径的测量斑点
● 经过验证,接近wan美的测量精度
相关产品
-
- Niton XRF 手持式合金分析仪
- 品牌:美国赛默飞-尼通
- 型号:XRF
-
- 美国博曼高性能XRF镀层测厚仪
- 品牌:美国Bowman
- 型号:101-G,100-B,100-P,100-O
上一篇:光学膜厚仪的应用和原理