为积极推动表面分析应用技术的发展,促进表面分析技术与其它学科的融合,更好地结合表面分析技术解决问题,同时加强同行之间交流与合作,展示相关的新成就、新进展,将于2023年6月9日重新启动已延期两年的“PHI CHIIA 2023年表面分析应用与技术交流会暨北京分会”。
本次会议将由北京理工大学材料学院先进材料实验中心、北京理化分析测试学会表面分析技术委员会及PHI CHIIA高德英特(北京)科技有限公司联合举办。会议邀请了北京理工大学、清华大学、中科院以及ULVAC一PHI的专家、教授分享学术报告,为大家带来XPS、TOF一SIMS、AES等表征手段与材料、物理、化学、机械、前沿交叉等学科技术应用的交流,探讨学术技术理论、促进各学科交叉融合,发展壮大表面分析科学研究队伍,提升表面分析科学应用能力。在此诚邀国内外相关高校和科研院所的科研人员、科学领域的专家学者、技术人员前来参会,积极交流。
会议信息
主办单位
北京理工大学材料学院先进材料实验中心
北京理化分析测试学会表面分析技术委员会
PHI CHINA高德英特(北京)科技有限公司
协办单位:
北京理工大学分析测试中心
北京理工大学物理学院
会议地址
北京理工大学中关村校区(北京市海淀区中关村南大街5号) 研究生教学楼101报告厅
会议时间
2023年6月9日 8:30-18:00
会议主题
XPS、AES、TOF-SIMS等表面分析测试技术 表面分析技术及其在新材料中的应用 新能源、新材料表征技术 先进结构技术、前沿交叉科学中的表面分析技术应用 表面分析科学在双一 流建设中的作用等
会议日程
相关费用
不收取任何会务费注册费。
差旅及食宿费用自理(校外人员提供午间工作餐)。
如需会务组协助定酒店,请在报名表内填写。
协议酒店:北京中关村理工大学漫心酒店(魏公村路8号院6号楼)
价格:大床房 600元/间 ,标间:800元/间。
参会报名
请扫码进行报名登记
*校外人员因需提前办理入校申请,请校外人员务必重新扫码登记身份证号。
报名成功后统一邮件/短信通知
会务组联系方式
潘剑南 18612300780
nice.pan@CoreTechInt.com
吴 婷 13167361283
noreen.wu@CoreTechInt.com
宋老师 13811665848
高老师 13488699859
韩老师 15901039196