高频率分辨率选件的太赫兹波时域光谱光电取样分析系统新登场！

面向Beyond5G/ADAS应用场景评估分析频率特性的解决方案

      这是Advantest太赫兹光学采样分析系统的一个选项。它适用于评估无线电波吸收器、印刷电路板材料、聚合物材料等的频率特性，这些材料是下一代无线通信技术（后5G/6G）和用于ADAS（高级驾驶员辅助系统）的毫米波雷达所不可或缺的。可评估毫米波至太赫兹波段，各种材料的传输特性（透射率、反射率）和复介电常数。

    通常在评估各种材料在毫米波和高频段区域的传输特性（透射率、反射率）和复介电常数的时候我们会用到矢量网络分析仪 (VNA)* ，而如今随着5G技术的广泛应用和衍生技术的迭代更新，对于在更宽的带宽上评估这些特性的需求变得更为迫切。同时在使用VNA评估这些特性时需要设置和校准每个频段，故此带来的时间和精力消耗引发了一系列的问题。

      TAS7400TS太赫兹光学采样分析系统新增-高分辨率配件。新配件为无线电波吸收材料和基材的高频特性评估提供了开创性的测量方法，这对于后5G / 6G的下一代通信技术和ADAS（高级驾驶辅助系统）中使用的毫米波雷达技术而言是很重要的。

   在新配件的加持下，用户可以通过使用紧凑的光学采样系统获得的更具优势的测量环境进行测量，从而节省成本和空间。此外，TAS7400TS的扫描测量配件可以分析表面频率特性，而此次新配件的频率分辨率和扫描速度是以前产品的5倍，使其成为了评估新材料高频特性的优良解决方案。

系统配置建议（30 GHz 至2 THz）

可利用紧凑型设备来测定从毫米波到太赫兹波的电磁特性

● 实现380MHz高频率分辨率

● 不需要VNA那样切换扫频波段，一次实现宽带宽 （30GHz~2THz） 的测定

● 40ms的扫描速度对宽带宽进行扫描

● 系统配有透射/反射测量模块，更容易校准设备

● 通过远程编程功能就能实现二维扫描测量

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矢量网络分析仪（VNA）是通过测量网络各个端口对频率/功率扫描测试信号的幅度与相位响应，从而测量器件网络特性的仪器，它结合了频谱分析，信号发生以及信号分离等各项技术。应用于芯片测试，微波器件，材料科学，电子通信等基础性行业和领域。

上海五铃光电科技有限公司

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