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会议通知|第九届硬X射线光电子能谱国际会议

爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司 2022-05-05

硬 X 射线光电子能谱 (常见缩写HAXPES, HXPS, HX-PES, ...) 已经发展成为一种重要的分析技术,通过使用能量从 2 keV 到 15 keV 的 X 射线来研究各种材料的电子结构,这使XPS探测深度可以从10nm扩展到30nm。


HAXPES 会议从欧洲同步辐射光源(ESRF) 的第一届国际研讨会 HAXPES 2003 开始,已经在全.球举办了多次。第九届硬X射线光电子能谱国际会议(HAXPES 2022)将于2022年5月31日至6月3日在日本兵库县姬路市(Himeji, Japan)举行。会议将涵盖 HAXPES相关的原子和分子物理、化学、应用科学、量子材料和电子动力学方面最新和令人兴奋的主题,以及该领域的最新技术进展。

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ULVAC-PHI 应用科学家张薰勻博士受邀参加本届HAXPES研讨会,将以Accurate and Non-destructive Layer Structure Analysis of Semiconductor Materials Using Angle Resolved HAXPES为主题,介绍HAXPES在半导体材料无损膜层结构深度分析中的应用。

部分邀请报告(暂定):

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历届HAXPES会议信息:


参会

本次参会信息请点击原文:

http://rsc.riken.jp/haxpes2022/index.html

https://www.ulvac-phi.com/en/events/2022/haxpes-2022/





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