会议通知：X射线光电子能谱之准原位/原位分析的研究应用ZT

X射线光电子能谱仪是一种有效的表面分析技术，已经广泛应用于基础科研、先进材料研究、高精尖技术等领域。XPS作为表面分析领域重要的大型科学仪器，已经成为材料分析中离不开的利器，而XPS在准原位/原位上的分析应用，一直是大家做分析研究时关心的一个重.点。

为了促进大家对XPS准原位/原位分析有更深入、直观的了解，兰州大学化学化工学院的吴剑峰老师邀请PHI CHINA在2020年8月13日(星期四)开展“X射线光电子能谱之准原位/原位分析的研究应用ZT”讲座。报告摘要如下：

• XPS在原位的4触点冷热样品台(原位通电和原位加热冷却)的详细介绍；

• 可以实现高温高压的催化反应的准原位气体反应装置介绍；

• 光催化研究(用卤灯或者其他光源辐照样品，实现准原位XPS/UPS/LEIPS测量)；

• 原位的XPS、UPS、LEIPS及GCIB技术介绍；

• 近常压XPS技术的介绍。

此次讲座将由PHI CHINA应用科学家鞠焕鑫博士作为主讲，通过腾讯会议与大家进行交流讨论。届时欢迎大家积极参与，积极互动，让我们一起云学习吧！

参与会议

1、会议时间：

2020年8月13日(星期四) 14:30-16:00

2、预约会议：

a 腾讯会议 ID：116 594 336b 点击以下链接： https://meeting.tencent.com/s/48rg1TATHsXfc 点击文末下方“阅读原文”。

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