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X射线光电子能谱作为重要的的表面分析技术，可以对样品表面的元素组分和化学态进行元定性以及定量分析，已经广泛应用于科学研究和工业生产中。而XPS作为表面分析领域重要的大型科学仪器，已经成为材料分析中离不开的利器。当我们测试了XPS，拿到一个XPS数据时，如何对数据进行分析处理，谱峰该如何分峰拟合等却成了令许多小伙伴头疼的问题。基于此，清华大学深圳国际研究生院开展了储能材料XPS数据处理进阶公开课，并邀请到了高德英特（北京）科技有限公司的丁志琴工程师，给大家分享一些有关XPS数据处理的内容。此次公开课分为以下三个课程：
1月8日 周五 15:00~16:00
DY期：XPS数据拟合-通用原则
1月15日 周五 15:00~16:00
第二期：全谱和精细谱的定性和半定量分析
1月22日 周五 15:00~16:00
第三期：复杂数据拟合和案例分析
1月8日开展的DY期的公开课程，丁志琴老师通过带领大家认识XPS的几种谱峰，了解XPS的一些数据库以及介绍XPS数据拟合处理的几条通用原则等几个方面来进行了讲解。
本次课程是通过腾讯会议与大家进行交流，并且通过哔哩哔哩网站与小鹅通同步直播。如果想要继续参与后两期直播课程，请扫描下方海报上的二维码：
非常抱歉的通知大家，DY期的课程没有录屏，不过老师准备了演讲的PPT，请查收哟~
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