邀请函丨赛默飞&胜科纳米电性失效分析主题研讨会

随着半导体制造工艺的快速发展，倒置式光学系统在电性失效定位工作中起到了至关重要的作用。赛默飞推出的Meridian S系统作为静态光学失效定位工具中的杰出代表，在电性失效分析领域中被广泛应用，它可以对半导体器件中的电性故障、电路短路、漏电以及晶体管活动进行非破坏性地分析定位。

为了进一步推进Meridian S在半导体行业中的应用和发展，赛默飞携手胜科纳米将于10月28日下午和30日上午第十一届ZG国际纳米技术产业博览会期间，各举办1场电性失效分析主题研讨会，现诚邀您参加本次研讨会，与同行一同探讨和分享电性失效分析技术进展！

本次研讨会，我们将讨论倒置式系统架构的优势，改进的静态激光调制（SLS），高分辨率的固体浸没式透镜（SIL）以及其他分析技术。

会议时间与地点

您可以根据自己的日程安排，选择参加其中一场研讨会，您可以选择自行前往或乘坐班车前往研讨会地点。

班车时间与地点

10月28日下午会议安排

10月30日下午会议安排

报名方式

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联系方式

戴佳来

13501716667

jeffrey.dai@thermofisher.com