仪器社区

会议回顾:X射线光电子能谱之准原位/原位分析的研究应用ZT

爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司 2020-08-24

应兰州大学化学化工学院吴剑峰老师邀请,PHI CHINA开展的“X射线光电子能谱之准原位/原位分析的研究应用ZT”讲座在8月13日顺利结束了。X射线光电子能谱是利用X射线激发样品,探测样品表面出射光电子,来获得样品表面组成和化学态信息的分析技术。鞠焕鑫博士从XPS最核心的激发源X射线、研究对象和探测信息三个方面,系统地讲解了XPS最.新的发展和应用:

下面是本次讲座的PPT要点,快来与小助手一起回顾一下吧~

☆课件已精简,欲了解更多请关注“PHI与高德”公众号观看视频

幻灯片1.JPG幻灯片2.JPG幻灯片3.JPG幻灯片4.JPG幻灯片5.JPG幻灯片6.JPG幻灯片7.JPG幻灯片8.JPG幻灯片9.JPG幻灯片10.JPG幻灯片11.JPG幻灯片12.JPG幻灯片13.JPG幻灯片14.JPG幻灯片15.JPG幻灯片16.JPG幻灯片17.JPG幻灯片18.JPG幻灯片19.JPG幻灯片20.JPG幻灯片21.JPG幻灯片22.JPG幻灯片23.JPG

PHI 与高德

qrcode_for_gh_1c810a0d8212_344.jpg

评论
全部评论
您可能感兴趣的社区主题
加载中...
发布 评论