XRF镀层测厚仪的原理是什么?

1、原理：X射线照射样品，经过镀层界面，射线返回的信号发生突变，根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难（信号分不开）。
2、XRF镀层测厚仪：
俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。
功能：精密测量金属电镀层的厚度。
应用范围：测量镀层，涂层，薄膜，液体的厚度或组成，测量范围从22(Ti)到92(U)。

X荧光射线照射样品，根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难（信号分不开）。测试镀层厚度要考虑镀层材质和镀层密度等因素，如果各因素都不确定是无法分析的。我们厂用的是上海精谱的测厚仪，他们相比其他国产厂家仪器贵那么一点，不过的确用的很好，仪器很稳定，给大家推荐一下精谱的仪器。

XRF是X射线荧光光谱，可以检测不同位置的元素分布（11号以后的），扫面断面的元素分布就可以知道你镀层的厚度。。。。

荧光X-射线仪器的测量原理
物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。

请参照：http://www.gene-sea.com/upload/download/UsersManual/micropioneer/x-ray.pdf