涂层测厚仪有涡流测厚原理和磁性测厚原理之分.
影响涂层测厚仪测量的若干因素。磁性法测量厚度受基体金属性变化的影响(在实际应用中,低碳钢磁性的变化可认为是轻微的),为了避免热处理和冷加工因素的影响,应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;基体金属的电导率对测量有影响,而基体金属的电导率与其材料成份及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;每一种仪器都有一个临界厚度,大于这个厚度,测量就不受基体金属厚度的影响;对试件表面形状的陡变敏感,因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的;试件的曲率对测量有影响,随着曲率半径的减少明显地增大,因此,在弯曲试件的表面上测量也是不可靠的;探头会使软涂层试件变形,因此在这些试件上测不出可靠的数据;基体金属和涂层的表面粗糙度对测量有影响。
高频交流信号在探头线圈中产生电磁场,探头靠近导体时,就在其中形成涡流。探头离导电基体愈近,则涡流愈大,反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了探头与导电基体之间距离的大小,也就是导电基体上非导电涂层厚度的大小。由于这类涂层测厚仪探头专门测量非铁磁金属基体上的涂层厚度,所以通常称为非磁性探头。
非磁性探头采用高频材料做线圈芯。与磁感应原理比较,主要区别是涂层测厚仪探头不同,信号频率不同,信号的大小、标度关系不同。采用电涡流原理的涂层测厚仪,原则上对所有导电基体上的非导电涂层均可测量,如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆,塑料涂层及阳极氧化膜。涂层材料有一定的导电性,通过校准同样也可测量,但要求两者导电率之比至少相差3-5倍。虽然钢铁基体亦为导体,但这类任务还是采用磁性原理测量涂层厚度较为合适。
如果基体上基体金属粗糙,还必须在未涂的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点,或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解去除涂层后,再校对仪器的零点;周围各种电气设备所产生的强磁场,会严重干扰磁性测厚工作;那些妨碍探头与涂层表面紧密接触的附着物质,必须清除,在测量中,要保持压力恒定,探头与试件表面保持垂直,才能达到精确的测量。粗糙度增大,影响增大,粗糙表面会引起系统误差和偶然误差,每次测量时,在不同的位置上应增加测量的次数,以克服这种偶然误差。