介电温谱测量系统可以测陶瓷，薄膜材料的高温介电常数吗？有什么优势？

介电温谱测量系统可测量陶瓷、薄膜、半导体等块状材料的高温介电常数与介电损耗。
介电阻抗谱仪、介电温谱仪是为了满足材料在高温环境下的介电性能测量需求而设计的。它由硬件设备和测量软件组成，包括高温测试平台、高温测试夹具、阻抗分析仪和高温介电测量系统软件四个组成部分。

高温测试平台是为样品提供一个高温环境；高温测试夹具提供待测试样品的测试平台；阻抗分析仪则负责测试各组参数数据。Z后，再通过测量软件将这些硬件设备的功能整合在一起，形成一套由实验方案设计到温度控制、参数测量、图形数据显示与数据分析于一体的三琦介电阻抗谱仪、介电温谱仪。