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实验室有台Agilent E4990A,如何测试薄膜高温介电常数?

ll15001086759 2017-10-22
实验室有台Agilent E4990A,需要测试薄膜从室温到300℃的介电常数和介电损耗。
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1.首先,Agilent E4990A可以测量材料的电容C、介电损耗D,电感L、电阻R等参数值。
2.如果需要测薄膜材料的介电常数和介电损耗,只需在仪器上设置电容C和介电损耗D值两个参数,之后再通过样品的尺寸信息(样品厚度、样品直径)计算介电常数值。
3.如果需要测薄膜材料的高温介电常数和介电损耗,则需要配合高温测试平台、高温介电夹具、以及高温介电温谱测量系统软件来完成测量任务,也就是一整套高温介电温谱测量系统来完成实验。
4.三琦高温介电温谱测量系统是为了满足材料在高温环境下的介电性能测量需求而设计的。它由硬件设备和测量软件组成,包括高温测试平台、高温测试夹具、阻抗分析仪和高温介电测量系统软件四个组成部分。
14 0 2017-10-23 0条评论 回复
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