AFM-IR（原子力红外技术）探针悬臂的刚性对测量的影响？

对于扫形貌用的半径只有几纳米的探针，只能用TEM测。对于几百纳米甚至微米的探针，用SEM。这些都是先照图片，再根据比例估算，不是太准。据说比较准的是用探针扫描碳纳米管，计算碳管宽度变化来反推探针半径。也有用极精密的探针在大探针上扫形貌直接测量大探针半径。