飞纳 清洁度分析 ParticleX TC

Phenom ParticleX TC

飞纳 Phenom ParticleX 全自动清洁度分析系统 以台式扫描电镜和能谱仪为硬件基础，可以全自动对颗粒或杂质进行快速识别、分析和分类统计，为客户的研发以及生产提供快速、准确和可靠的定量数据支持。该过程完全符合 ISO 16232 和 VDA 19 要求。

​传统的清洁度分析方法（重量法和光镜法）只能提供清洁部件上大颗粒灰尘和碎片的总体重量或形状信息，而不能全面分辨颗粒的污染源。Phenom ParticleX 取代传统颗粒物清洁度检测方法，允许工程师看见微米尺寸的颗粒并确定其化学成分，从而判断出污染源。

借助 Phenom ParticleX 全自动清洁度分析系统，只需一键，即可自动分析 4 片直径 47mm 的滤膜，并且自动生成报告，更有效率地监控过程清洁度。

规格参数