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半导体裂片仪MC10i

似空科学仪器(上海)有限公司

企业性质授权代理商

入驻年限第7年

营业执照已审核
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半导体裂片仪MC10i 核心参数
样品尺寸: 2*1mm
切片厚度: 晶片样品厚度:最高2000微米
切片准确度: 硅晶片:任何标准的晶片材料,单芯片或封装芯片。
步进范围: 硅片类型:<100>

SELA系列中的MC10i智能微裂解系统具有在裂解过程中喷射液氮的能力,它是获取高质量、高精度、高通量晶体材料和SEM样品制备的全新的领先级的解决方案。它配备独特的LN2喷涂能力,这项能力可以消除裂解过程中金属或其他材料产生的延展拉丝现象,来确保截面的最佳质量。

 

MC10i为客户提供了全面的裂解解决方案,具有SELA先进的微切割能力和完美的切割技术。

 

MC10i 桌面系统实现了晶圆片和裸片样品截面切割的半自动化、可靠化和快速化。专用的软件系统可以完成对目标元件的精准定位和精准控制,完成裂解的样品可以直接用于后续的检查和分析。

 





MC10i 参数.png

 

 

 

MC10i 具备LN2喷涂技术的半自动微裂解系统

 

MC10i 亮点 配置 细节.png

 




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