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德国IONTOF TOF-SIMS系统

北京艾飞拓科技有限公司

企业性质授权代理商

入驻年限第3年

营业执照已审核
同类产品飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)(1件)
德国IONTOF TOF-SIMS系统 核心参数
仪器分类: 飞行时间
质量数范围: > 12000 u
分辨率: > 26000
空间分辨率: 50 nm
灵敏度: > 8.0E8 Al+/nC @ 7,000 (FWHM)

全新 M6 — — 飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)先进科技


       M6 是 IONTOF 在 TOFSIMS 5 基础上开发的新一代高端飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)仪器,对一次离子源(LMIG)和质量分析器(TOF Analyser)进行了突破性的改进。

       此外,在硬件方面还增加了 MS/MS 功能选项,重新设计了加热和冷却系统;在软件方面新增了多元统计分析(MVSA)软件包。其设计保证了 SIMS 应用在所有领域的高端性能。

       新的突破性离子束和质量分析器技术使 M6 成为二次离子质谱(SIMS)仪器中的耀眼光芒、工业和学术研究的理想工具。


全新 M6 具有以下突出优势:

  • 1      新型 Nanoprobe 50 具有高横向分辨率 (< 50 nm)

  • 2      质量分辨率 > 30,000

  • 3      独特的延迟提取模式可同时实现高传输,高横向质量

  • 4      广域的动态范围和检测限

  • 5      用于阐明分子结构具有 CID 片段功能的 TOF MS/MS

  • 6      先进智能的 SurfaceLab 7 软件,包括完全集成的多元统计分析 (MVSA) 软件包

  • 7      新型灵活按钮式闭环样品加热和冷却系统,可长期无人值守运行


有关TOFSIMS的更多资料,请移步我司官网:http://www.iontof.com.cn/bk_22421317.html