企业性质授权代理商
入驻年限第3年
仪器分类: | 飞行时间 |
质量数范围: | > 12000 u |
分辨率: | > 26000 |
空间分辨率: | 50 nm |
灵敏度: | > 8.0E8 Al+/nC @ 7,000 (FWHM) |
全新 M6 — — 飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)先进科技
M6 是 IONTOF 在 TOFSIMS 5 基础上开发的新一代高端飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)仪器,对一次离子源(LMIG)和质量分析器(TOF Analyser)进行了突破性的改进。
此外,在硬件方面还增加了 MS/MS 功能选项,重新设计了加热和冷却系统;在软件方面新增了多元统计分析(MVSA)软件包。其设计保证了 SIMS 应用在所有领域的高端性能。
新的突破性离子束和质量分析器技术使 M6 成为二次离子质谱(SIMS)仪器中的耀眼光芒、工业和学术研究的理想工具。
全新 M6 具有以下突出优势:
1 新型 Nanoprobe 50 具有高横向分辨率 (< 50 nm)
2 质量分辨率 > 30,000
3 独特的延迟提取模式可同时实现高传输,高横向质量
4 广域的动态范围和检测限
5 用于阐明分子结构具有 CID 片段功能的 TOF MS/MS
6 先进智能的 SurfaceLab 7 软件,包括完全集成的多元统计分析 (MVSA) 软件包
7 新型灵活按钮式闭环样品加热和冷却系统,可长期无人值守运行
有关TOFSIMS的更多资料,请移步我司官网:http://www.iontof.com.cn/bk_22421317.html