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BeNano Zeta 电位分析仪

丹东百特仪器有限公司

企业性质生产商

入驻年限第6年

营业执照已审核
同类产品纳米粒度仪/Zeta电位仪(6件)
BeNano Zeta 电位分析仪 核心参数
粒径范围: 2nm-110μm(Zeta测试范围)
测量分辨率: 2.5-3倍粒径
重复性: ≤1%
分散方式: 手动分散

产品介绍

BeNano Zeta 电位分析仪是丹东百特仪器公司开发的测量颗粒体系 Zeta 电位的光学检测系统。BeNano Zeta 系统基于电泳光散射原理,样品分散在样品池中,在样品池两端施加一个电场,通过激光照射到电场中的样品上,光电检测器在 12°角检测样品颗粒电泳运动造成的散射光的多普勒频移,进而得到体系的 Zeta 电位信息。


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基本性能指标

Zata电位测试

  原理

  相位分析光散射技术

  检测角度

  12°

  Zeta范围

  无实际限制

  电泳迁移率范围

  > ±20 μ.cm/V.s

  电导率范围

  0-260 mS/cm

  Zeta测试粒径范围

  2 nm – 110 μm

  样品量

  0.75 mL – 1.0 mL

趋势测试

  时间和温度

系统参数

  温控范围

  -15℃-110℃

  冷凝控制

  干燥空气或者氮气

  标准激光光源

  50 mW 高性能固体激光器, 671 nm

  相关器

  最多 4000通道,1011动态线性范围

  检测器

  APD (高性能雪崩光电二极管)

  光强控制

  0.0001%  - 100%,手动或者自动

软件

   中文和英文

  符合21CFR Part 11


检测参数

●Zeta 电位

●Zeta 电位分布


检测技术

●电泳光散射

●相位分析光散射


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