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BeNano 90 Zeta纳米粒度及Zeta电位分析仪

丹东百特仪器有限公司

企业性质生产商

入驻年限第6年

营业执照已审核
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BeNano 90 Zeta纳米粒度及Zeta电位分析仪 核心参数
粒径范围: 0.3nm ~ 15μm*
测量分辨率: 2.5-3倍粒径
重复性: ±1%
分散方式: 自动分散

产品简介

BeNano 90 Zeta 纳米粒度及 Zeta电位分析仪 是 BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光学检测系统。该系统中集成了动态光散 DLS、电泳光散射 ELS 和静态光散射技术 SLS,可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布,Zeta 电位,高分子和蛋白体系的分子量信息等参数,可广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。


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基本性能指标

粒径检测

  原理

  动态光散射技术

  粒径范围

  0.3 nm – 15 μm

  样品量

  3 μL – 1 mL

  检测角度

  90 ° + 12°

  分析算法

  Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

Zeta电位测试

  原理

 相位分析光散射技术

  检测角度

  12°

  Zeta范围

  无实际限制

  电泳迁移率范围

  >±20 μm.cm/V.s


  电导率范围

   0 - 260 mS/cm

  Zeta测试粒径范围

  2 nm – 120 μm 


分子量测试


  分子量范围

 342 Da – 2 x 107 Da 


微流变测试


  频率范围

0.2 – 1.3 x 10rad/s

  测试能力

  均方位移、复数模量、弹性模量、粘性模量、蠕变柔量

折光率和粘度测试

  粘度范围

  0.01 cp – 100 cp

  折光率范围

  1.3-1.6


趋势测试

  时间和温度


系统参数


  温控范围

 -15°C - 110°C ,精度±0.1℃

  冷凝控制

  干燥空气或者氮气

  标准激光光源

  50 mW 高性能固体激光器, 671 nm

  相关器

 ≥25 ns采样,≤ 4000通道,1011动态线性范围

检测器

  APD (高性能雪崩光电二极管)

  光强控制

  0.0001%  - 100%,手动或者自动


软件



  中文和英文


  符合21CFR Part 11


检测参数


●颗粒体系的光强、体积、面积和数量分布

●颗粒体系的 Zeta 电位及其分布

●分子量

●分布系数 PD.I

●扩散系数 D

●流体力学直径 DH

●颗粒间相互作用力因子 kD

●溶液粘度


检测技术

●动态光散射

●电泳光散射

●相位分析光散射

●静态光散射


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