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一、ZJD-B型介电常数测试仪方法与步骤
1.把S916测试夹具装置上的插头插入到Q表测试回路的“电容”两个端子上。
2.在Q表电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈（本公司Q表配套使用的LKI-1电感组能满足要求），如：1MHz时电感取250uH，15MHz时电感取1.5uH。
3.被测样品要求为圆形，直径50.4--52mm/38.4--40mm，这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1--5mm之间，样品太薄或太厚就会使测试精度下降，样品要尽可能平整。
4.调节S916测试夹具的测微杆，使S916测试夹具的平板电容极片相接为止，按ZERO清零按键，初始值设置为0。
5.再松开两片极片，把被测样品夹入平板电容上下极片之间，调节S916测试夹具的测微杆，直到平板电容极片夹住样品止（注意调节时要用S916测试夹具的测微杆，以免夹得过紧或过松），这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值，既是样品的厚度D2。改变Q表上的主调电容容量，使Q表处于谐振点上。
6.取出S916测试夹具中的样品，这时Q表又失去谐振，此时调节S916测试夹具的测微杆，使Q表再回到谐振点上，读取测试装置液晶显示屏上的数值记为D4.
7.计算被测样品的介电常数:
Σ＝D2/D4
二、介质损耗测试方法与步骤
1.把S916测试夹具装置上的插头插入到Q表测试回路的“电容”两个端子上。
2.在Q表电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈（本公司Q表配套使用的LKI-1电感组能满足要求），如：1MHz时电感取250uH，15MHz时电感取1.5uH。
3.被测样品要求为圆形，直径50.4--52mm/38.4--40mm，这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1--5mm之间，样品太薄或太厚就会使测试精度下降，样品要尽可能平直。
4.调节S916测试夹具的测微杆，使S916测试夹具的平板电容极片相接为止，按ZERO清零按键，初始值设置为0。再松开两片极片，把被测样品夹入两片极片之间，调节S916测试夹具的测微杆，到的平板电容极片夹住样品止（注意调节时要用S916测试夹具的，以免夹得过紧或过松），这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值，既是样品的厚度D2，变Q表上的主调电容容量，使Q表处于谐振点上，然后按一次Q表上的小数点（tgδ）键，在显示屏上原电感显示位置上将显示C0=xxx，记住厚度D2的值。
5.取出S916测试夹具中的样品，（保持S916测试夹具的平板电容极片之间距不变）这时Q表又失去谐振，再改变Q表上的主调电容容量，使Q表重新处于谐振点上。
6.第二次按下Q表上的小数点（tgδ）键，显示屏上原C2和Q2显示变化为C1和Q1，同时显示介质损耗系数tn=．xxxxx，即完成测试。
7.出错提示，当出现tn= NO显示时，说明测试时出现了差错，发生了Q1≤Q2和C1≤C2的错误情况。
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