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一．偏光显微镜的特点
偏光显微镜是鉴定物质细微结构光学性质的一种显微镜。凡具有双折射的物质，在偏光显微镜下就能分辨清楚，当然这些物质也可用染色发来进行观察，但有些则不可能，而必须利用偏光显微镜。偏光显微镜的特点，就是将普通光改变为偏光进行镜检的方法，以鉴别某一物质是单折射（各向同行）或双折射性（各向异性）。双折射性是晶体的基本特性。因此，偏光显微镜被广泛地应用在矿物，化学等领域。在生物学和植物学也有应用。
二．偏光显微镜的基本原理
偏光显微镜的原理比较复杂，在此不作过多介绍,偏光显微镜必须具备以下附件（a）起偏镜（b）检偏镜（c）专用无应力物镜（d）旋转载物台。
三．偏光镜检术的方式
（一）正相镜检（Orthscope）：又称无畸变镜检，其特点是使用低倍物镜，不用伯特兰透镜（BertrandLens）,同时为使照明孔径变小，推开聚光镜的上透镜。正相镜检用于检查物体的双折射性。
（二）锥光镜检（Conoscope）：又称干涉镜检，这种方法用于观察物体的单轴或双轴性。
四．偏光显微镜在装置上的要求
（一）光源：Z好采用单色光，因为光的速度，折射率，和干涉现像因波长的不同而有差异。一般镜检可使用普通光。
（二）目镜：要带有十字线的目镜。
（三）聚光镜：为了取得平行偏光，应使用能推出上透镜的摇出式聚光镜。
（四）伯特兰透镜：这是把物体所有造成的初级相放大为次级相的辅助透镜。
五．偏光显微镜检术的要求
（一）载物台的ZX与光轴同轴。
（二）起偏镜和检偏镜应处于正交位置。
（三）制片不宜过薄。
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